La preparazione è un fattore cruciale per poter ottenere il massimo delle informazioni dai campioni analizzati. Il JEOL Cross Section Polisher permette di ottenere sezioni prive di artefatti e distorsioni di campioni duri, morbidi o compositi.
Una grossa novità sta per essere presentata.
Guarda il video.
Se vuoi rimanere sempre aggiornato seguici sui canali social JEOL EUROPE e web.
JEOL sarà presente all’Italian-French International Conference on Magnetic Resonance che si terrà all’Università di Milano Bicocca dal 27 al 30 Settembre. Nella mattinata di Martedì
Gather-X, il nuovo rivelatore EDS Windowless di JEOL da 100mm2, è stato appositamente progettato e sviluppato per rispondere alle richieste di elevata sensibilità ed efficienza
Anche quest’anno JEOL è fiera di essere presente come uno degli sponsor principali al prestigioso evento “NanoInnovation 2022” che si terrà presso la Facoltà di
JEOL (ITALIA) S.p.A.
Palazzo Pacinotti – Milano 3 City
Via Ludovico il Moro 6/A
20079 Basiglio (MI) • Italy
P. IVA 07436470152
Informazioni amministrative:
info@jeol.it
Info commerciali:
sales@jeol.it
Assistenza e supporto tecnico:
service@jeol.it