Microscopi Elettronici a Scansione (SEM)​

Microscopi Elettronici a Scansione (SEM)​

Strumento ormai imprescindibile per l’analisi dei nuovi materiali, per il controllo qualità, per l’analisi dell’amianto e molto altro, JEOL (ITALIA) S.p.A. è in grado di fornire il SEM più adatto alle esigenze ed alle applicazioni dei clienti.

Microscopi elettronici a scansione JEOL disponibili in Italia

JEOL Italia fornisce e assiste tutti i modelli SEM JEOL sul territorio italiano: il JCM-7000 NeoScope per chi cerca un SEM da banco semplice e compatto, i convenzionali JSM-IT210 (con EDS 60mm² integrato) e JSM-IT510, e i modelli a emissione di campo JSM-IT710 HR e JSM-IT810 con sorgente Schottky In-Lens Plus brevettata. Tutti i SEM possono essere equipaggiati con il rivelatore EDS Gather-X sviluppato internamente da JEOL. Applicazioni: scienza dei materiali, controllo qualità, analisi amianto, geologia, biologia, nanotecnologie. Per informazioni: sales@jeol.it.

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