JSM-IT700 HR

Il nuovo microscopio elettronico a scansione (SEM) JSM-IT700HR è lo strumento essenziale nel funzionamento quotidiano di un laboratorio. Grazie alle nuove autofunzioni e all’innovativa sorgente elettronica ad emissione di campo Schottky “In-Lens Plus” (brevetto JEOL), l’osservazione e l’analisi di nanomateriali e nanocompositi all’origine dei progressi tecnologici odierni sono notevolmente semplificate.

Grazie alla nuova sorgente elettronica ad emissione di campo Schottky “In-Lens Plus”, il JEOL JSM-IT700HR raggiunge risoluzioni spaziali elevate (≤ 1 nm) insieme alle più elevate correnti di fascio disponibili sul mercato (300 nA) garantendo una flessibilità senza eguali. Le elevate correnti del fascio elettronico, regolabili in continuo da pochi pA fino a oltre 300 nA, sono raggiungibili grazie al brevetto JEOL con cui è stata realizzata la sorgente elettronica senza rischiare di danneggiarla. Questo permette al JEOL JSM-IT700HR di realizzare mappe EDS a basse tensioni d’accelerazione (<5 keV) molto facilmente.  
La nuova interfaccia software per la gestione fluida ed intuitiva dei parametri, l‘ampia camera analitica per alloggiare campioni di grandi dimensioni e l’EDS JEOL integrato per l’analisi chimica, rendono il nuovo FE-SEM JEOL JSM-IT700HR lo strumento ideale per l’osservazione e l’analisi delle nanostrutture senza compromessi. 

ZEROMAG e funzioni automatiche

Il software ZEROMAG è stato progettato da JEOL per correlare l’immagine ottica all’immagine elettronica (SEM) consentendo contemporaneamente una transizione graduale tra le due. L’utilizzo della funzione ZEROMAG facilita la ricerca del campo di interesse senza perdite di tempo e con incredibile aumento della produttività: 

EDS JEOL integrato e analisi in tempo reale:

Il JSM-IT700HR può essere equipaggiato con il nostro sistema di microanalisi EDS completamente integrato che fornisce lo spettro EDS in tempo reale durante l’osservazione SEM del campione: 

Visualizzazione dell’analisi EDS direttamente sullo schermo di osservazione per una transizione continua dall’osservazione SEM all’analisi EDS. La modalità “Live Analysis” visualizza direttamente all’interno dell’interfaccia grafica del SEM gli spettri dei raggi X caratteristici di ciascun elemento presente nel campione in tempo reale.

Flessibile

Il nuovo JEOL JSM-IT700HR è dotato di una camera analitica di grandi dimensioni ed un robusto tavolino motorizzato, completamente eucentrico, grazie al quale è possibile osservare campioni pesanti, di grandi dimensioni e forme irregolari. Le diverse porte accessorie del JSM-IT700HR sono state progettate e posizionate in maniera ottimale per consentire l’impiego di tecniche analitiche opzionali come EDS multipli (GSR), EBSD (coplanari con EDS), WDS, CL, STEM, stage riscaldanti/raffreddanti/tensili, ecc.  

SMILE VIEW™ Lab

Il software SMILE View™ Lab è stato appositamente sviluppato da JEOL al fine di consentire agli utilizzatori del microscopio la creazione di report completi (immagini ottiche, SEM e analisi EDS) in maniera personalizzabile e con un semplice click:

Visualizzazione della profondità del segnale

JEOL ha integrato una nuova funzione per visualizzare la profondità del segnale elettronico generato durante l‘osservazione dei campioni portando la comprensione della risoluzione spaziale EDS ad un livello senza precedenti.  

Allineamento automatico del fascio (ABA)

Questa nuova autofunzione di JEOL consente di regolare automaticamente l’asse ottico del fascio di elettroni: 

JEOL MONTAGE: osservazione e analisi di grandi aree

La funzione JEOL MONTAGE permette di “unire” tutte le immagini acquisite per realizzare un’unica immagine finale ad alta definizione con campo di visione estremamente elevato in maniera automatica tramite steeching. 

Campione: vite in ottone, sezione trasversale. Tensione di accelerazione: 20 kV, modalità basso vuoto (20 Pa), area immagine: 6,4 mm x 4,8mm.

Risultato del montaggio: 6×6 immagini. A sinistra: immagine SEM da elettroni retrodiffusi, a destra: mappatura EDS degli elementi Cu.

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