AFS – ACB
campione: nanoparticelle di Sn su carbonio.
Tensione di accelerazione: 15 kV, WD: 2 mm, rivelatore: UED, ingrandimento: x 200.000.
Menu
Il microscopio elettronico a scansione JSM-IT800, equipaggiato con l’innovativa sorgente elettronica ad emissione di campo Schottky “In-Lens Plus” (brevetto JEOL) unita ad uno spettrometro a raggi X (EDS) e alla nuova interfaccia grafica, consente l’acquisizione continua di dati, immagini e spettri EDS permettendo di passare dall’osservazione SEM all’analisi chimica elementare senza interruzioni.
Grazie all’impiego dell’intelligenza artificiale, nuovi algoritmi di calcolo ed elaborazione dati e autofunzioni avanzate, il JSM-IT800 offre velocità e prestazioni senza compromessi con un incremento rispetto ai tradizionali FE-SEM ad alta risoluzione di oltre il 50%.
Il nuovo JEOL JSM-IT800 può essere configurato e personalizzato sulla base delle proprie specifiche applicazioni e richieste fornendo uno strumento analitico completo adatto ad ogni settore applicativo: dalla biologia alla scienza dei materiali, dal settore ceramico-refrattario a quello polimerico-plastico, dall’industria alimentare a quella metallurgica passando per il mondo dei semiconduttori.
Il microscopio elettronico a scansione JEOL JSM-IT800 utilizza un software di gestione di facile e immediato utilizzo, il “JEOL SEM Center”, comprendente una completa gamma di autofunzioni che consentono all’utilizzatore di passare in pochi secondi dall’osservazione SEM ad alta risoluzione all’analisi chimica elementare ad alta velocità. Il JEOL JSM-IT800 è dotato dell’innovativa sorgente elettronica ad effetto di campo Schottky “in-lens Plus” (brevetto JEOL), di un sistema di controllo ottico elettronico NEO Engine e del nuovo sistema EDS JEOL completamente integrato nel software di gestione. Inoltre, grazie al rivoluzionario design della lente ibrida, consente di soddisfare la totalità delle esigenze analitiche di tutti gli utilizzatori configurandosi come il SEM ad emissione di campo universale ad elevata risoluzione spaziale.
Personalizza il JEOL JSM-IT800 e configuralo in base alle tue esigenze tecnico-analitiche: lente ibrida o super ibrida in-lens o semi in-lens, nuovo rivelatore UHD (Upper Hybrid Detector) che permette di ottenere immagini di qualità eccezionale caratterizzate da un elevato rapporto segnale-rumore, camera analitica di grandi dimensioni accessoriabile con una vasta gamma di rivelatori quali EDS (singolo o multiplo), WDS, EBSD, CL, STEM, Spettrometro Soft Xray JEOL esclusivo per la raccolta efficiente di raggi X a bassissima energia in grado di fornire un’analisi dello stato chimico senza precedenti, stage riscaldanti/raffreddanti/tensili, ecc…
Sul nuovo JSM-IT800 è inoltre possibile integrare nuovi rivelatori JEOL di elettroni retrodiffusi come quello a scintillatore (SBED) per immagini contrastate di alta qualità ottenute a basse tensioni di accelerazione o quello multisegmento (VBED) per immagini topografiche e 3D.
L’innovativa sorgente elettronica ad emissione di campo Schottky In-Lens Plus (brevetto JEOL) abbinata al condensatore a bassa aberrazione (brevetto JEOL) consente di generare un fascio elettronico avente una brillanza 10 volte superiore ai tradizionali FE-SEM senza inficiare in alcun modo la durata della sorgente stessa:
Intensità di correnti uniche sul mercato già disponibili alle basse tensioni di accelerazioni (100 nA a 5 kV) consentendo all’utilizzatore di eseguire contemporaneamente analisi SEM ad elevata risoluzione e mappature elementari ad alta velocità (EDS), analisi a raggi X a dispersione di lunghezza d’onda (WDS) e analisi di diffrazione elettronica retrodiffusa (EBSD).
La nuova colonna elettro-ottica del JEOL JSM-IT800, risultato di oltre dieci anni di continua ricerca e sviluppo JEOL, permette di passare dall’imaging ad alta risoluzione all’analisi EDS ad elevata corrente in pochi secondi senza sacrificare le prestazioni e con una facilità senza precedenti. Avanzati algoritmi di intelligenza artificiale ottimizzano il controllo delle lenti elettroniche in tempo reale correggendo le traiettorie degli elettroni e allineando automaticamente il raggio, il tutto ottimizzando contemporaneamente la messa a fuoco, la luminosità/contrasto e l’astigmatismo:
campione: nanoparticelle di Sn su carbonio.
Tensione di accelerazione: 15 kV, WD: 2 mm, rivelatore: UED, ingrandimento: x 200.000.
Sul JSM-IT800 la navigazione sull’immagine ottica a colori, l’osservazione in modalità SEM e l’analisi chimica EDS “live” sono integrati alla perfezione semplicemente con un solo clic.
L’analisi EDS JEOL in tempo reale, che consente il monitoraggio continuo e diretto della composizione chimica del campione durante l’imaging, è stata completamente integrata nel nuovo software di gestione JEOL SEM Center così da creare il nuovo e rivoluzionario SEM JEOL JSM-IT800:
La lente a tecnologia ibrida o super ibrida del JEOL JSM-IT800 accoppia una lente elettromagnetica ad una elettrostatica, consentendo l’osservazione e l’analisi ad alta risoluzione spaziale di qualsiasi tipologia di campione a partire dai materiali magnetici agli isolanti e fino ai campioni biologici.
Il nuovo rivelatore in-lens UHD, presente a seconda della versione scelta, è fino a 2 volte più efficiente nella raccolta di elettroni secondari e consente l’acquisizione di immagini con un miglior rapporto segnale-rumore facilitando l’acquisizione di immagini ad elevata risoluzione per gli utenti meno esperti.
Il nuovo SEM JEOL JSM-IT800 può essere equipaggiato anche con i nuovi rivelatori in camera di elettroni retrodiffusi come il rivelatore di elettroni retrodiffusi a scintillatore (SBED) per immagini contrastate di alta qualità ottenute a basse tensioni di accelerazione o quello versatile multi-settore (VBED) per immagini topografiche e 3D.
A seconda dell’angolo con il quale vengono retrodiffusi gli elettroni, il nuovo rivelatore VBED JEOL è in grado di raccogliere sia informazioni composizionali (settore interno) che quelle topografiche (settori esterni) con informazioni relative anche alla profondità.
E’ possibile eseguire una ricostruzione 3D utilizzando le immagini 2D ottenute con i 4 segmenti del rivelatore VBED:
JEOL (ITALIA) S.p.A.
Palazzo Pacinotti – Milano 3 City
Via Ludovico il Moro 6/A
20079 Basiglio (MI) • Italy
P. IVA 07436470152
Informazioni amministrative:
info@jeol.it
Info commerciali:
sales@jeol.it
Assistenza e supporto tecnico:
service@jeol.it
Errore: Modulo di contatto non trovato.
