Gather-X EDS

Il nuovo rivelatore EDS, JEOL Gather-X, con area attiva da 100 mm2 è stato appositamente progettato per la serie FE-SEM JSM-IT800, al fine di rispondere alla crescente richiesta di sistemi in grado di fornire una maggiore sensibilità a basse energie (es. Litio):

 


Grazie al suo particolare design e ai diversi sistemi di sicurezza automatici, completamente integrati, è possibile rilevare i raggi X emessi dal campione a bassissime distanze di lavoro con il risultato di ottenere analisi e mappature EDS estremamente risolte nello spazio ed in tempi molto brevi.

Il controllo del nuovo JEOL Gather-X, completamente integrato nell’interfaccia grafica del SEM, consente analisi EDS “Live” in tempo reale e la possibilità di combinarlo a più rilevatori EDS JEOL. 

Rilevamento di raggi X inferiori a 100eV:

Sensibilità di rilevamento dei raggi X inferiori a 1 keV migliorata, con capacità di rilevare raggi X inferiori a 100eV fino al Litio:

Bassissima distanza di lavoro e modalità “Beam Deceleration”:

La totale integrazione del nuovo EDS JEOL Gather-X nel sistema di gestione JEOL SEM Center consente di lavorare in totale sicurezza non solo a basse distanze di lavoro in condizioni di alta risoluzione spaziale, ma anche a basse tensioni di accelerazione e in modalità “Beam Deceleration” tipiche dei SEM ad altissima risoluzione.

Angolo solido aumentato

L’ampio angolo solido unito al nuovo design senza finestra forniscono velocità di conteggio senza precedenti, consentendo tempi di raccolta assai più rapidi, così da ridurre al minimo i potenziali danni su campioni sensibili al fascio elettronico.

Analisi EDS fino a 30 kV:

E’ possibile eseguire analisi e mappature EDS fino ai 30 kV senza alcun danno al rilevatore.

Elevata risoluzione spaziale

Il rilevamento di elementi leggeri (compreso il Litio) è stato reso possibile aumentando significativamente la sensibilità e l’accuratezza del rivelatore Gather-X. Il suo design esclusivo permette di eseguire analisi EDS a basse tensioni e distanze di lavoro, mantenendo al contempo, elevate velocità di conteggio ed un ampio angolo solido così da permettere un’analisi EDS con risoluzione spaziale ineguagliabile:

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