JIB-PS500i

L’avanguardia nella preparazione, nell’imaging e nell’analisi EDS del campione

Il nuovissimo JIB-PS500i è un FIB-SEM multiuso che offre la sinergia di preparazione rapida ed efficiente del campione, imaging SEM e analisi EDS/EBSD in un unico strumento. La flessibilità di questo nuovo FIB-SEM lo rende ideale sia per l’industria che per il mondo accademico.  

Flusso di lavoro facile ed efficace dalla preparazione all’analisi TEM

Il JIB-PS500i permette di attuare un nuovo flusso di trasferimento campione, efficace e ad alta produttività, dalla preparazione dei campioni all’imaging TEM. Il TEM-Linkage è costituito da uno specifico portacampione in grado di ospitare un retainer capace di tiltare su due angoli, e facilmente trasferibile su portacampioni per analisi TEM. 

L’utilizzo di OmniProbe 400* (Oxford Instruments) consente operazioni di prelievo e manipolazioni precise e fluide. La gestione di OmniProbe 400* è integrata nel software del JIB-PS500i facilitandone così l’utilizzo da parte degli operatori.

Preparazione rapida ed efficiente di campioni TEM di alta qualità

Per preparare in modo preciso ed efficiente un campione TEM, è essenziale controllare rapidamente l’avanzamento della preparazione. Grazie al suo stage ad alta inclinazione ed alla disposizione dei rivelatori nella camera portacampione, il JIB-PS500i consente di passare senza problemi dal milling FIB all’imaging con rivelatore STEM. Le rapide transizioni tra la lavorazione delle lamelle e l’imaging STEM consentono una preparazione efficiente dei campioni.

Grazie alla capacità di preparare lamelle estremamente sottili e di elevata qualità, questo FIB-SEM consente di eseguire imaging e analisi dei campioni con risoluzione atomica. 

JEOL JIB-PS500i automatizza la preparazione dei campioni TEM grazie al nuovo software “STEMPLING2”. Questo sistema automatico consente, a qualsiasi operatore, di preparare senza nessuna difficoltà i campioni per analisi TEM.

Nuova camera di grandi dimensioni per la massima flessibilità

L’ampia camera campione del FIB, con porta di facile accesso e tavolino di nuova concezione completamente eucentrico e motorizzato su cinque assi, consente un flusso di lavoro efficiente e flessibilità per una vasta gamma di campioni e processi. 

Il tavolino supporta campioni di grandi dimensioni (fino a 130 mm di diametro e 80 mm di altezza) ed è progettato per un’estesa flessibilità di movimento su XY, inclinazione e rotazione del campione.

Inoltre, il JIB-PS500i può essere equipaggiato con “AVERT Engine”, funzionalità utilizzata per determinare il limite di movimento del campione: sfruttando modelli 3D del tavolino e del campione all’interno della camera, in qualsiasi condizione di lavoro, il campione non potrà mai interferire con il rilevatore e la lente obiettivo.

Nuova Colonna FIB con corrente elevata e prestazioni superiori a bassi kV

La colonna FIB a ioni di Ga, di nuova concezione, del JIB-PS500i, permette di ottenere correnti elevate (fino a 100 nA), permettendo un’efficace milling e l’analisi di grandi aree. 

Il nuovo FIB è dotato di funzionalità di milling estremamente fine ad alte prestazioni, essenziale per una preparazione di alta qualità di lamelle per l’imaging, l’analisi EDS e la microscopia 3D. La colonna del nuovo JIB-PS500i è progettata su una distanza di lavoro inferiore rispetto ai modelli JEOL precedenti. Questo, insieme al nuovo design, consente di ottenere prestazioni estremamente elevate anche a basse tensioni di accelerazione (fino a 0,5 kV), aspetto essenziale per lavorare con materiali sensibili al fascio e per ottenere lamelle TEM di eccellente qualità.

Lo straordinario imaging, che si ottiene utilizzando la nuova colonna elettronica con lente obiettivo e-conica e la combinazione di vari rilevatori, tra cui SED, UED e iBED, è fondamentale per verificare l’ultimazione della preparazione e rendono il JIB-PS500i adatto all’analisi anche di campioni in sezione (cross-section).

Software EDS integrato*

Le funzioni di analisi EDS sono integrate nel software di gestione principale dello strumento, consentendo così l’analisi elementare del campione senza dover cambiare software. (Disponibile solo quando lo strumento è equipaggiato con JEOL EDS*.)

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