JSM-IT210 SEM

Il microscopio elettronico a scansione compatto JEOL JSM-IT210 è un SEM rivoluzionario di ultima generazione dotato di diverse automazioni, che lo rendono il SEM di più semplice utilizzo attualmente sul mercato. Questo nuovo SEM offre la possibilità di osservare i tuoi campioni partendo dalla scala millimetrica, grazie alla telecamera a colori integrata, fino a quella nanometrica, in modalità SEM, in pochi secondi, con analisi chimiche EDS in tempo reale. Le molteplici autofunzioni che equipaggiano il nuovo JEOL JSM-IT210 consentono di acquisire immediatamente immagini SEM ad alti ingrandimenti, spettri o mappe EDS e creare report completi con un semplice click, anche da parte di utenti poco esperti.

 

La nuova e rivoluzionaria funzione “Simple SEM” consente l’acquisizione automatica e personalizzata di immagini in diverse zone di interesse, aumentando drasticamente la produttività del SEM rispetto alle modalità di analisi convenzionali.

Nonostante l’utilizzo della semplice sorgente in filamento di tungsteno (W), il JSM-IT210 permette di ottenere le migliori risoluzioni sul mercato, anche in condizioni di bassissime tensioni di accelerazione (1kV), condizione necessaria per l’ottenimento di immagini topografiche e superficiali eccellenti.

Smart – Flessibile – Performante

SMART – L’Intelligent Technology di JEOL consente un perfetto allineamento del fascio eletronico ottimizzandone il fuoco, l’astigmatismo ed il contrasto/luminosità così da ottenere rapidamente immagini in alta risoluzione. La fotocamera ottica a colori integrata per la navigazione consente una transizione continua fino all’imaging SEM per un flusso di lavoro senza interruzioni. La funzione “JEOL Montage” consente di osservare estese aree del campione (decine di mm2) in completa automazione ricostruendo l’area finale tramite lo stitching delle immagini raccolte.

  • FLESSIBILE Un SEM adatto ad ogni esigenza grazie alle modalità di lavoro in alto e basso vuoto, supportate dal nuovo sistema EDS JEOL per analisi “Live” in tempo reale.
  • PERFORMANTESorgente di Tungsteno pre-centrata, originale JEOL, con le migliori prestazioni alle basse tensioni di accelerazione e di lunga durata sostituibile facilmente dall’operatore in pochi secondi. Il tavolino motorizzato a cinque assi, eucentrico ad alta precisione, permette analisi accurate e ripetibili. Il nuovo rilevatore BSD ad alta sensibilità permette di eseguire ricostruzioni superficiali 3D in tempo reale mentre si osserva il campione.

“NAVI”: dall’introduzione in camera del campione alla generazione del report finale.

Una guida che accompagna l’utilizzatore passo dopo passo in ogni fase dell’analisi SEM, dall’introduzione in camera del campione, alle condizioni operative, all’acquisizione automatica delle immagini, fino alla generazione del report finale che rende il JEOL JSM-IT210 uno strumento accessibile a chiunque.    

   

Operazioni guidate dallo “Specimen Exchange Navi”

Una volta completata l’evacuazione della camera, l’area di osservazione e le condizioni di lavoro vengono impostate rapidamente per consentire l’ottenimento delle immagini desiderate.

ZEROMAG: semplice navigazione da immagine ottica ad immagine SEM

Dall’immagine ottica su scala millimetrica a quella SEM su scala nanometrica in pochi secondi:

  • Possibilità di impostare a priori molteplici posizioni di analisi sui campioni inseriti in camera;
  • Possibilità di visualizzare le aree analizzate per un facile riepilogo o per poter acquisire maggiori dettagli;

Automazione “SIMPLE SEM” per l’acquisizione semplice e veloce delle immagini nelle analisi di routine!

Automatizza la raccolta delle immagini in più aree del campione con condizioni ed ingrandimenti impostati a priori:

Microanalisi elementare EDS istantanea!

Grazie al sistema EDS JEOL completamente integrato puoi osservare e visualizzare in tempo reale nell’Interfaccia Grafica Utente (GUI) del JSM-IT210 lo spettro EDS caratteristico degli elementi presenti nel campione durante l’osservazione SEM!  

  • Visualizza gli spettri EDS in tempo reale mentre cerchi il particolare di interesse;
  • Visualizza gli elementi chimici presenti direttamente sull’immagine SEM; 

Nuova funzione “SIGNAL DEPTH”:

Questa funzione migliora la comprensione della risoluzione spaziale analitica visualizzando la pera d’interazione dalla quale si generano i diversi segnali ed i caratteristici raggi X.

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