Il nuovo Microscopio Elettronico a Scansione con sorgente ad emissione di campo JEOL JSM-IT710HR, quarta generazione della serie HR, consente a chiunque di acquisire facilmente immagini ad alta risoluzione grazie alle molteplici funzioni automatiche basate sull’Intelligent Technology. Tali autofunzioni, integrate all’interno del software di gestione JEOL SMILE VIEW™ Lab che equipaggia il nuovo SEM, consentono anche agli utenti poco esperti di acquisire immediatamente immagini SEM ad elevati ingrandimenti, spettri o mappature EDS e creare report completi con un semplice click.
L’esclusivo design della sorgente elettronica JEOL “In-Lens Plus” (brevetto JEOL) ad emissione di campo e l’ottica elettronica avanzata, forniscono contemporaneamente alte risoluzioni ed elevate correnti di fascio, rendendo il JSM-IT710HR ideale sia per applicazioni di imaging che per applicazioni analitiche (EDS, EBSD, WDS, Raman, ecc.).
Grazie al design compatto, alla camera di lavoro analitica di grandi dimensioni ed alla modalità di lavoro in basso vuoto standard, il JEOL JSM-IT710HR è un microscopio estremamente versatile adatto all’osservazione di un’ampia varietà di campioni: metallici, polimerici, ceramici, biologici, elettronici e magnetici.
INTELLIGENTE – Grazie all’Intelligent Technology basata sull’intelligenza artificiale, il nuovo JEOL JSM-IT710HR consente in pochi secondi un perfetto allineamento del fascio elettronico ottimizzandone il fuoco, l’astigmatismo ed il contrasto/luminosità così da ottenere in pochi secondi immagini in alta risoluzione. La camera CMOS a colori integrata nella camera di lavoro assicura una navigazione chiara ed immediata grazie alla transizione continua all’imaging SEM per un flusso di lavoro senza interruzioni.
FLESSIBILE – Un FE-SEM estremamente flessibile e performante adatto ad ogni esigenza grazie alle modalità di lavoro in alto e basso vuoto, incluse come standard, supportate dal nuovo sistema di microanalisi EDS JEOL per analisi “EDS Live” in tempo reale.
Il JSM-IT710HR è dotato di camera analitica di grandi dimensioni con tavolino eucentrico completamente motorizzato grazie al quale è possibile osservare campioni pesanti, di grandi dimensioni e forme irregolari. Le molteplici porte accessorie sono state progettate e posizionate in maniera ottimale per consentire l’impiego di tecniche analitiche opzionali come EDS multipli (GSR), EBSD (coplanari con EDS), WDS, CL, STEM, Raman, stage riscaldanti/raffreddanti/tensili, ecc.
PERFORMANTE – L’esclusivo design della sorgente elettronica JEOL “In-Lens Plus” (brevetto JEOL) ad emissione di campo insieme alla nuova colonna elettron-ottica consentono di generare correnti di fascio superiori a 400nA senza perdita di risoluzione anche alle basse tensioni di accelerazione, mentre Il nuovo rilevatore BED multisettore consente la ricostruzione della superficie 3D in tempo reale durante l’osservazione del campione:
Dall’immagine ottica su scala millimetrica a quella SEM su scala nanometrica in pochi secondi:
Appositamente sviluppata da JEOL per aiutare l’utilizzatore durante le analisi SEM quotidiane e di routine, automatizza l’acquisizione personalizzata delle immagini in diverse aree di interesse del campione aumentando incredibilmente la produttività del SEM rispetto alla modalità di analisi convenzionale:
La funzione “JEOL Montage” consente di eseguire analisi automatizzate, sia in modalità SEM che in modalità EDS su vaste aree di interesse del campione (decine di mm2) in completa automazione ricostruendo l’immagine finale tramite lo stitching delle immagini aquisite:
Grazie al sistema EDS JEOL completamente integrato è possibile osservare e visualizzare in tempo reale direttamente nell’Interfaccia Grafica Utente (GUI) del SEM lo spettro o la mappa EDS degli elementi presenti nel campione!
Il JSM-IT710HR è dotato della modalità di lavoro in basso vuoto per l’osservazione e l’analisi di campioni non conduttivi senza necessità di metallizzazione.
Errore: Modulo di contatto non trovato.