JSM-IT710 HR

Il nuovo Microscopio Elettronico a Scansione con sorgente ad emissione di campo JEOL JSM-IT710HR, quarta generazione della serie HR, consente a chiunque di acquisire facilmente immagini ad alta risoluzione grazie alle molteplici funzioni automatiche basate sull’Intelligent Technology. Tali autofunzioni, integrate all’interno del software di gestione JEOL SMILE VIEW™ Lab che equipaggia il nuovo SEM, consentono anche agli utenti poco esperti di acquisire immediatamente immagini SEM ad elevati ingrandimenti, spettri o mappature EDS e creare report completi con un semplice click.

L’esclusivo design della sorgente elettronica JEOL “In-Lens Plus” (brevetto JEOL) ad emissione di campo e l’ottica elettronica avanzata, forniscono contemporaneamente alte risoluzioni ed elevate correnti di fascio, rendendo il JSM-IT710HR ideale sia per applicazioni di imaging che per applicazioni analitiche (EDS, EBSD, WDS, Raman, ecc.).

Grazie al design compatto, alla camera di lavoro analitica di grandi dimensioni ed alla modalità di lavoro in basso vuoto standard, il JEOL JSM-IT710HR è un microscopio estremamente versatile adatto all’osservazione di un’ampia varietà di campioni: metallici, polimerici, ceramici, biologici, elettronici e magnetici. 

ZEROMAG: da immagine ottica ad immagine SEM in un’istante:

Dall’immagine ottica su scala millimetrica a quella SEM su scala nanometrica in pochi secondi:

  • Possibilità di impostare a priori molteplici posizioni di analisi sui campioni inseriti in camera;
  • Possibilità di visualizzare le aree analizzate per un facile riepilogo o per poter acquisire maggiori dettagli;

Automazione “SIMPLE SEM” per l’acquisizione semplice e veloce delle immagini nelle analisi di routine!

Appositamente sviluppata da JEOL per aiutare l’utilizzatore durante le analisi SEM quotidiane e di routine, automatizza l’acquisizione personalizzata delle immagini in diverse aree di interesse del campione aumentando incredibilmente la produttività del SEM rispetto alla modalità di analisi convenzionale:

Automazione – JEOL Montage (acquisizione automatica di immagini di grandi aree)

La funzione “JEOL Montage” consente di eseguire analisi automatizzate, sia in modalità SEM che in modalità EDS su vaste aree di interesse del campione (decine di mm2) in completa automazione ricostruendo l’immagine finale tramite lo stitching delle immagini aquisite:

Microanalisi elementare EDS istantanea!

Grazie al sistema EDS JEOL completamente integrato è possibile osservare e visualizzare in tempo reale direttamente nell’Interfaccia Grafica Utente (GUI) del SEM lo spettro o la mappa EDS degli elementi presenti nel campione!  

  • Visualizza gli spettri EDS in tempo reale mentre cerchi il particolare di interesse;
  • Visualizza gli elementi chimici  presenti direttamente sull’immagine SEM; 

Modalità LV a pressione variabile standard:

Il JSM-IT710HR è dotato della modalità di lavoro in basso vuoto per l’osservazione e l’analisi di campioni non conduttivi senza necessità di metallizzazione.

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