Il microscopio elettronico a trasmissione JEM-2100Plus fornisce soluzioni per un’ampia gamma di problemi nella scienza dei materiali, nella nanoelettronica, nelle scienze biologiche e rappresenta l’eccellente compromesso costo-prestazione per i TEM 200kV.
Il JEM-2100Plus è la nuova generazione di TEM 200kV con sorgente termoionica LaB6: è intuitivo, facile da utilizzare anche con funzioni di controllo remoto grazie al suo rinnovato software di gestione. Il JEM-2100Plus consente l’integrazione di svariati accessori come STEM (HAADF e BF), EDS, laser per eseguire esperimenti risolti nel tempo o in-situ (si veda la sezione IDES) e molto altro.
Il JEM-2100Plus è dotato di un goniometro ad alta stabilità, appositamente ottimizzato per applicazioni di tomografia 3D. La suite software JEOL TEMography™ consente l’acquisizione automatica di un’intera serie di immagini in modalità TEM o STEM. Il modulo di ricostruzione calcola automaticamente la ricostruzione 3D, il modulo di visualizzazione 3D consente la visualizzazione dell’immagine su una varietà di assi. Il controllo piezo X/Y, disponibile in opzione, completerà una configurazione avanzata.
Il JEM-2100Plus ha tre lenti condensatrici indipendenti ed il sistema brevettato JEOL Alpha Selector™ consente all’utente la scelta di una varietà di condizioni di illuminazione, dalla modalità di fascio convergente all’illuminazione parallela permettendo così di migliorare le capacità di analisi e diffrazione. Grazie alla sua seconda lente obiettivo, la microscopia Lorentz è una caratteristica standard di questo microscopio. Un diaframma ad alto contrasto, rimovibile dalla lente obiettivo, equipaggia ciascuno dei cinque diversi modelli di pezzo polare, ciascuno ottimizzato in base alle applicazioni che l’utente vuole eseguire (alta risoluzione, alto contrasto, Cryo, Tomografia, ecc.). Una volta introdotto, offre un eccellente contrasto.
Per completare le capacità analitiche del JEM-2100Plus, un diaframma di risoluzione dei raggi X spuri è posizionato appena sopra la lente dell’obiettivo così da limitare la presenza di picchi “contaminanti” durante le analisi EDS.
La semplicità nell’operatività di questo TEM è garantita dal nuovo software di gestione “TEM Center” che mostra tutti i controlli della colonna, la modalità di lavoro STEM e la gestione della camera CMOS JEOL “Matataki” (disponibile in opzione) in un singolo monitor ed in modo estremamente intuitivo.
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