Il nuovo JEOL EC-32010CC Carbon Coater consente di depositare strati sottili e uniformi di Carbonio in maniera completamente automatica su campioni da analizzare mediante Microscopio Elettronico a Scansione (SEM).
Applicare un sottile strato di carbonio a campioni non conduttivi è una tecnica di preparazione efficacie per eliminare effetti di carica (charging) e artefatti durante le analisi SEM specialmente quando si lavora con raggi-X (microanalisi EDS), Catodoluminescenza (CL) o elettroni retrodiffusi (BSE).