GRAND ARM™ 2

Il “GRAND ARM™ 2” è l’ultima evoluzione del GRAND ARM. Questo nuovo modello è stato sviluppato per garantire nuove possibilità al mondo della ricerca, offrendo il microscopio più potente, nei campi dell’ultra alta risoluzione e dell’analisi, sia alle alte che alle basse tensioni di accelerazioni.

Il nuovo GRAND ARM™ 2 presenta molteplici miglioramenti rispetto alla precedente versione, volti ad ottimizzare il workflow operativo.

Un nuovo pezzo polare, l’FHP2, che combina un’eccezionale risoluzione spaziale (HRTEM / HRSTEM) con una performante analisi dei raggi X (EDS).

Il nuovo design dell’FHP2 consente di ottimizzare le condizioni di analisi in altissima risoluzione:

  • L’analisi EDS può essere eseguita con incredibile risoluzione spaziale ed in tempi estremamente ridotti grazie al fatto che l’angolo solido totale è stato più che raddoppiato rispetto alla precedente versione.
  • Il nuovo design dell’FHP2 permette di ridurre le aberrazioni cromatiche e sferiche, dando accesso ad una migliore risoluzione spaziale nelle immagini e nelle analisi EDS su un’ampia gamma di tensioni di accelerazione. (Risoluzione STEM garantita: 53 pm @ 300 kV, 96 pm @ 80 kV) *


* Con correttore di aberrazione STEM (ETA).

Grand Arm
Atomic resolution STEM-HAADF/ABF images and EDS maps for GaN[211]

Rispetto al microscopio ottico

Il pezzo polare WGP è invece progettato per analisi EDS ultrasensibili e per l’implementazione di studi dei campioni in-situ.

Il WGP è un pezzo polare con gap di maggiori dimensioni creato per spingere all’estremo le prestazioni analitiche del GRAND ARM™ 2. Grazie a questo grande gap, è possibile:

  • posizionare i rivelatori EDS SDD il più vicino possibile al campione per migliorare l’angolo solido e quindi avere accesso ad analisi EDS ultrasensibili.
  • inserire portacampioni dedicati, dando accesso ad un illimitato numero di possibili esperimenti di caratterizzazione del campione in-situ.

Correttore di aberrazione (Cs) JEOL con software di controllo integrato JEOL COSMO™

Il “GRAND ARM™ 2” è dotato di correttori di aberrazione sferica ETA, sviluppati interamente da JEOL.
Grazie all’integrazione del nuovo pezzo polare FHP2, il “GRAND ARM ™ 2” può raggiungere una risoluzione STEM di 53 pm a 300 kV (59 pm con il WGP a 300 kV).
Il software JEOL COSMO™ utilizza due Ronchigrams, acquisiti in qualsiasi area amorfa, per correggere in modo automatico le aberrazioni, eliminando la necessità di campioni specifici ed in tempi estremamente ridotti rispetto al passato.

Rinnovata sorgente ad emissione di campo di tipo Cold (CFEG)

Il “GRAND ARM™ 2” è dotato del nuovo CFEG, con migliorata stabilità, per ottenere impareggiabili prestazioni sia nell’imaging che nell’analitica. Il Cold FEG è una sorgente a ridotta dispersione di energia rispetto alle sorgenti Schottky FEG, che permette di combinare una piccola dimensione del fascio elettronico con la massima brillanza possibile. La combinazione di queste caratteristiche rappresenta l’unico modo per poter acquisire contemporaneamente un’analisi elementare X, ed un’analisi EELS su scala atomica in tempo record su quattro tipi di rivelatori (EDS, EELS, HAADF, BEI).

Un nuovo design esterno

Il “GRAND ARM™ 2” è dotato di un involucro protettivo per limitare i disturbi ambientali come variazioni della temperatura nella stanza, fluttuazione del flusso d’aria, rumore acustico, ecc. Questa soluzione consente di migliorare la stabilità e di conseguenza le prestazioni del microscopio.

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