JXA-iSP100

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JXA-iSP100

La nuova microsonda JEOL JXA-iSP100 equipaggiata con la sorgente in Esaboruro di Lantanio (LaB6) rappresenta uno strumento innovativo e all’avanguardia, fondamentale in diversi settori industriali ed accademici grazie alla sua elevata risoluzione sia spaziale che analitica unitamente alla corrente di fascio più elevata e stabile attualmente disponibile sul mercato.
L’interfaccia grafica utente (GUI) del nuovo software JEOL Center consente di gestire in maniera rapida ed intuitiva la parte SEM ed EDS, grazie alle rinnovate e più efficienti autofunzioni. Questo rende la nuova microsonda JEOL JXA-iSP100 adatta ad una vasta gamma di utenti.

La nuova microsonda JEOL JXA-iSP100 è dotata di nuova precamera di caricamento dei campioni, automatica e con telecamera di navigazione a colori integrata che permette di individuare immediatamente le aree di interesse e di analizzarle con un semplice clic. E’ possibile inoltre trasferire dati EDS e/o XRF JEOL direttamente nel software della microsonda, la quale selezionerà automaticamente gli spettrometri ed i cristalli più appropriati per l’analisi. Il nuovo software include come standard anche le funzioni “Phase Analysis” e “Phase Map Maker” basate sull’intelligenza artificiale per l’analisi dei principali componenti. 

Preparazione

Inserimento porta campioni con caricamento automatico: trova immediatamente il punto d’interesse! 

Una volta inserito il campione, l’acquisizione dell’immagine ottica del portacampioni (Stage Navigation Image) viene fatta con un semplice click così da poter selezionare immediatamente la regione d’interesse sulla quale eseguire le analisi:

Analisi

Immagini SEM di alta qualità e analisi elementari rapide ed accurate per qualsiasi utente:

Grazie alle nuove auto-funzioni presenti ed al flusso di lavoro semplificato “Easy EPMA”, qualsiasi utente è in grado di acquisire immagini SEM di alta qualità ed eseguire analisi chimiche rapide e precise. L’analisi EDS “live” permette la visione e la distinzione degli elementi chimici presenti durante l’osservazione del campione. L’integrazione EPMA-XRF consente di impostare le condizioni di lavoro sulla base dei dati XRF importati. Il tempo di analisi risulta ulteriormente ottimizzato grazie alla completa integrazione, in un unico software di gestione, degli spettrometri WDS e EDS con la colonna SEM e la telecamera ottica:

Integrazione: con un singolo click è possibile impostare la combinazione dei cristalli analitici sulla base degli elementi consigliati dalle tecniche analitiche di cui sopra.

Prestazioni e Manutenzione:

Calibrazione altamente efficiente grazie ai 18 standard di riferimento incorporati:

18 standard analitici di riferimento incorporati.
La nuova funzione di calibrazione dello spettrometro riduce le fasi della taratura periodica ed elimina eventuali operazioni errate grazie all’utilizzo di 18 standard analitici di riferimento, integrati nel portacampione:

Questo consente di eseguire la calibrazione automatica dello strumento durante le ore notturne per raggiungere un’efficienza di utilizzo mai vista sul mercato per questo tipo di strumento. Infine, la funzione di notifica di manutenzione assicura una corretta gestione dello strumento nel tempo.

Funzione di notifica di manutenzione "Customer Support Tool".

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