Il nuovo microscopio elettronico a scansione JSM-IT810 rappresenta l’ultimo ritrovato tecnologico in casa JEOL per quanto riguarda i microscopi elettronici a scansione FE-SEM ad altissima risoluzione.
Basato sulle innovative caratteristiche del suo predecessore JSM-IT800, presenta l’innovativa sorgente elettronica ad emissione di campo Schottky “In-Lens Plus” (brevetto JEOL) e la possibilità di integrare uno spettrometro a dispersione di energia (EDS) JEOL.
Grazie alle nuove funzioni di “Calibrazione Automatica” e “Neo Action” il JSM-IT810 ha migliorato notevolmente il “workflow” operativo, consentendo anche agli utenti meno esperti di passare in pochi secondi dalla regolazione/set-up dello strumento all’osservazione/analisi ad elevata risoluzione.
Il nuovo FE-SEM JEOL JSM-IT810, come del resto tutti i microscopi JEOL, può essere configurato e personalizzato a seconda delle proprie esigenze analitiche offrendo così uno strumento completo e adatto ad ogni settore della ricerca, delle università e dell’industria.
Sulla base delle specifiche esigenze applicative il nuovo JEOL JSM-IT810 può essere completamente configurato con:
Il software di gestione “JEOL SEM Center” che equipaggia il nuovo microscopio elettronico a scansione JEOL JSM-IT810 è dotato di diverse autofunzioni che semplificano notevolmente l’utilizzo e la gestione del microscopio consentendo anche agli utilizzatori meno esperti di passare in pochi secondi dall’osservazione SEM ad alta risoluzione all’analisi chimica elementare ad alta velocità.
L’innovativa sorgente elettronica ad effetto di campo di tipo Schottky “In-Lens Plus” (brevetto JEOL), il sistema di controllo ottico elettronico NEO Engine, il nuovo sistema EDS JEOL completamente integrato nel software di gestione e il rivoluzionario design della lente ibrida consentono al nuovo JEOL JSM-IT810 di soddisfare la totalità delle esigenze analitiche di tutti gli utilizzatori configurandosi come il SEM ad emissione di campo universale ad elevata risoluzione spaziale.
L’innovativa sorgente elettronica ad emissione di campo Schottky In-Lens Plus (brevetto JEOL) abbinata al condensatore a bassa aberrazione (brevetto JEOL) consente di generare un fascio elettronico avente una brillanza 20 volte superiore ai tradizionali FE-SEM senza inficiare in alcun modo la durata della sorgente stessa:
Intensità di correnti uniche sul mercato già disponibili alle basse tensioni di accelerazioni (≥100nA a 5 kV) consentono di eseguire contemporaneamente analisi SEM ad elevata risoluzione e mappature elementari ad alta velocità (EDS), analisi a raggi X a dispersione di lunghezza d’onda (WDS) e analisi di diffrazione elettronica retrodiffusa (EBSD).
Prima di utilizzare le funzioni automatiche di messa a fuoco, astigmatismo e luminosità/contrasto;
Dopo aver utilizzato le funzioni automatiche di messa a fuoco, astigmatismo e luminosità/contrasto;
Sul JSM-IT810 la navigazione sull’immagine ottica a colori, l’osservazione in modalità SEM e l’analisi chimica EDS “live” sono integrati alla perfezione semplicemente con un solo clic:
Il nuovo SEM JEOL JSM-IT810 presenta diverse nuove funzionalità quali:
L’integrazione della microanalisi EDS JEOL nel software di gestione JEOL SEM Center, che consente il monitoraggio continuo e diretto della composizione chimica del campione in tempo reale durante l’imaging SEM, è stata ulteriormente migliorata ed affinata così da rendere il nuovo SEM JEOL JSM-IT810 il FE-SEM più innovativo e rivoluzionario:
Campione: Intonaco.
Tensione di Accelerazione: 7 kV, Segnale LV SE, Mag. 10.000X.
Il nuovo JEOL JSM-IT810 include anche il software Smile Navi™ che ne semplifica notevolmente l’utilizzo, anche per utenti meno esperti, e il software SMILE VIEW™ Lab per la generazione immediata di report (on-click report) comprendenti tutte le analisi SEM ed EDS eseguite.
La nuova lente a tecnologia ibrida del JEOL JSM-IT810, accoppiando la componente elettromagnetica a quella elettrostatica, consente l’osservazione e l’analisi ad alta risoluzione spaziale di qualsiasi tipologia di campione a partire dai materiali magnetici agli isolanti e fino ai campioni biologici:
Il nuovo rivelatore in-lens UHD, presente a seconda della versione scelta, è fino a 2 volte più efficiente nella raccolta di elettroni secondari e consente l’acquisizione di immagini con un miglior rapporto segnale-rumore facilitando l’acquisizione di immagini ad elevata risoluzione per gli utenti meno esperti.
Alcuni esempi di immagini SEM raccolte con il nuovo rivelatore UHD:
Il nuovo SEM JEOL JSM-IT810 può essere equipaggiato con diversi rivelatori in camera di elettroni retrodiffusi come il rivelatore di elettroni retrodiffusi a scintillatore (SBED) per immagini contrastate di alta qualità ottenute a basse tensioni di accelerazione o quello versatile multi-settore (VBED) per immagini topografiche e 3D.
SBED:
Campione: sezione ultrasottile di cervelletto di ratto (contrasto inverso), Tensione di accelerazione: 2,0 kV.
campione: inchiostro.
Tensione di accelerazione: 1,5 kV.
campione: piastra di Rame.
Tensione di accelerazione: 25 kV
VBED:
campione: Materiale Scintillatore. Tensione di accelerazione: 3.0 kV.
A seconda dell’angolo con il quale vengono retrodiffusi gli elettroni, il nuovo rivelatore VBED JEOL è in grado di raccogliere sia informazioni composizionali (settore interno) che quelle topografiche (settori esterni) con informazioni relative anche alla profondità.
Errore: Modulo di contatto non trovato.
