JEOL (ITALIA) S.p.A., in collaborazione con il nostro partner NCS Lab S.r.l. , è lieta di invitarvi al Workshop “MICROSCOPIA ELETTRONICA A SCANSIONE (SEM): NUOVE TECNOLOGIE ED APPLICAZIONI AVANZATE” che si terrà: Venerdì 13 dicembre dalle 9:00 alle 16:00 presso il centro di ricerca NCS Lab-Research Laboratory Via Pola Esterna 4/13, 41012 Carpi (MO) (per info su come raggiungerci –> COME RAGGIUNGERCI!)
Durante l’evento avrà l’opportunità di:
- Approfondire le sue conoscenze sulla microscopia elettronica a scansione (SEM) e sulla preparazione dei campioni;
- Confrontarsi e discutere con i professionisti del settore;
- Partecipare a sessioni interattive osservando dal vivo “Hands-on Session” eventuali suoi campioni con l’innovativo SEM da Banco JEOL JCM-7000;
L’evento è gratuito con POSTI LIMITATI per cui affrettatevi ad iscriversi utilizzando il seguente link : REGISTRATI!
Le iscrizioni si chiuderanno martedì 3 dicembre 2024!
Vi aspettiamo per condividere un’esperienza formativa e stimolante.
