Quest’anno ritorna il corso di Microscopia Elettronica in Scansione (SEM) organizzato dall’Associazione Italiana di Metallurgia (AIM) presso il polo territoriale di lecco del politecnico di milano, via previati 1/c, nell’aula b.05 – edificio 9, il 26 e 27 maggio 2026.
Sarà un’occasione unica per approfondire gli aspetti teorici e vivere in prima persona gli aspetti pratici della microscopia SEM.
Vi aspettiamo numerosi anche per mostrarvi le ultime novità JEOL sul mondo SEM!



